Microscopio a forza atomica FM-NanoView 1000 flyingman AFM
Descrizione del prodotto
I. caratteristiche
1. La testa di scansione e il piano di campionamento sono progettati insieme, con prestazioni resistenti alle vibrazioni
2. Il dispositivo di rilevamento laser di precisione e di allineamento della sonda rendono la regolazione del laser semplice e semplice;
3. Adattare il servomotore per guidare manualmente o automaticamente la punta di avvicinamento del campione , per ottenere il posizionamento preciso dell'area di scansione.
4. Un dispositivo di trasferimento dei campioni ad alta precisione e ad ampia portata consente di eseguire la scansione di qualsiasi area interessante del campione ;
5. Sistema di osservazione ottica per controllo della punta e posizionamento del campione.
6. Il sistema elettronico è progettato come modulare e facile da manutenere e da sviluppare ulteriormente.
7. Adottare la molla per l'isolamento delle vibrazioni, per prestazioni semplici e buone.
II. Software
1. Due tipi di pixel di campionamento a scelta: 256×256, 512×512;
Eseguire la funzione di spostamento e taglio dell'area di scansione, scegliere qualsiasi area interessante del campione;
3. Scansione del campione ad angolo casuale all'inizio;
4. Regolare il sistema di rilevamento di punti laser in tempo reale;
5. Scegliere e impostare un colore diverso per l'immagine di scansione nella tavolozza.
6. Supportare la calibrazione lineare media e offset in tempo reale per il titolo del campione;
7. Supportare la calibrazione della sensibilità dello scanner e la calibrazione automatica del controller elettronico;
8. Supporto dell' analisi offline e del processo dell'immagine campione.
Parametri del prodotto
III. Principali parametri tecnici
Articolo | Dati tecnici | Articolo | Dati tecnici |
Modalità di funzionamento | Modalità di contatto , modalità di attrito , modalità di maschiatura estesa, fase, MFM, EFM. | Angolo di scansione | Casuale |
Dimensione del campione | φ≤90 mm, a≤20 mm | Movimento del campione | 0~20 mm |
Intervallo di scansione max | X/Y: 20 um, Z: 2 um | Ampiezza impulso del motore in avvicinamento | 10±2 ms. |
Risoluzione | X/Y: 0.2 nm, Z : 0,05 nm | Sistema ottico | Ingrandimento : 4X, risoluzione: 2.5 um |
Velocità di scansione | 0,6 Hz~4,34 Hz | Punti dati | 256×256,512×512 |
Controllo di scansione | XY: D/A A 18 BIT , Z: D/A 16 BIT | Tipo di feedback | Feedback digitale DSP |
Campionamento dei dati | Un A/D a 14 bit e UN DOPPIO canale MULTIPLO A/D a 16 bit contemporaneamente |
Connessione PC | USB2.0 | Frequenza di campionamento feedback | 64,0 KHz |
Finestre | Compatibile con Windows98/2000/XP/7/8 |
FSM costruito nel 2013. Negli ultimi 9 anni ci concentriamo sulla realizzazione di strumenti per laboratori e fabbriche.
Forniamo microscopio a forza atomica per la normale educazione fisica e ispezione.
È il miglior rapporto di costo AFM.
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