Microscope d'inspection industrielle Bestscope BS-4020A pour fer à frer 12"

Introduction

Système d'éclairage microscopique parfait.

Le microscope est fourni avec un éclairage Kohler, qui offre un éclairage lumineux et uniforme sur tout le champ de visualisation. L'imagerie microscopique parfaite peut être fournie, en coordination avec le système optique à l'infini NIS45, les objectifs à NA élevé et à LWD.
 

2.objectifs de haute qualité pour les champs lumineux et sombre semi-APO et APO.

En adoptant la technologie de revêtement multicouche, les objectifs semi-APO et APO de la série NIS45 peuvent compenser l'aberration sphérique et l'aberration chromatique de l'ultraviolet au proche infrarouge. La netteté, la résolution et le rendu des couleurs des images peuvent être garantis. L'image avec haute résolution et l'image plate pour divers grossissements peut être obtenue.
 

3.le panneau de commande est situé à l'avant du microscope, pratique à utiliser.
Le panneau de commande du mécanisme est situé à l'avant du microscope (près de l'opérateur), ce qui permet une utilisation plus rapide et plus pratique lors de l'observation de l'échantillon. Et il peut réduire la fatigue causée par l'observation longue durée et la poussière flottante apportée par une grande gamme de mouvements.

4.tête de visualisation trinoculaire inclinable Ergo.

La tête de visualisation inclinable Ergo peut rendre l'observation plus confortable, afin de minimiser la tension musculaire et l'inconfort causés par de longues heures de travail.
 

5.mécanisme de mise au point et poignée de réglage fin de la scène avec position basse de la main.

Le mécanisme de mise au point et la poignée de réglage fin de la scène adoptent la conception basse de la main, conforme à la conception ergonomique. Les utilisateurs n'ont pas besoin de lever les mains lorsqu'ils travaillent, ce qui leur procure une sensation de confort optimale.
 

6.la scène est dotée d'une poignée d'embrayage intégrée.
La poignée d'embrayage permet de réaliser le mode de mouvement rapide et lent de la scène et de localiser rapidement les échantillons de grande surface. Il ne sera plus difficile de localiser les échantillons rapidement et précisément lors de l'utilisation conjointe de la poignée de réglage fin de la platine.

7. Le support surdimensionné (14"x 12") peut être utilisé pour les grandes plaquettes et les circuits imprimés.
Les zones des échantillons de microélectronique et de semi-conducteurs, en particulier les plaquettes, ont tendance à être grandes, de sorte que la platine de microscope métallographique ordinaire ne peut pas répondre à leurs besoins d'observation. La BS-4020 est dotée d'une scène surdimensionnée avec une large plage de mouvement, pratique et facile à déplacer. Il s'agit donc d'un instrument idéal pour l'observation au microscope d'échantillons industriels de grande surface.

8. le support de plaquettes de 12" est fourni avec le microscope.

ce microscope permet d'observer des cachets de 12 pouces et de petite taille, grâce à une poignée de mouvement rapide et fine, ce qui peut améliorer considérablement l'efficacité de travail.
 

9. Le couvercle de protection antistatique peut réduire la poussière.

Les échantillons industriels doivent être éloignés de la poussière flottante et un peu de poussière peut affecter la qualité du produit et les résultats des tests.
La BS-4020 est dotée d'une grande surface de protection antistatique, qui peut empêcher la poussière flottante et la poussière de tomber, afin de protéger les échantillons et de rendre le résultat du test plus précis.
 

10. Distance de travail plus longue et objectif NA élevé.

Les composants électroniques et les semi-conducteurs sur les échantillons de carte de circuit imprimé ont une différence de hauteur. Par conséquent, des objectifs de longue distance de travail ont été adoptés sur ce microscope. Dans le même temps, afin de satisfaire aux exigences élevées des échantillons industriels en matière de reproduction des couleurs, la technologie de revêtement multicouche a été développée et améliorée au fil des ans. Les objectifs BF&DF semi-APO et APO avec une NA élevée sont adoptés, ce qui permet de restaurer la couleur réelle des échantillons.

11. Diverses méthodes d'observation peuvent répondre à diverses exigences d'essai.
 

Champ lumineux d'éclairage réfléchi
Le BS-4020 adopte un excellent système optique infini. Le champ de visualisation est uniforme, lumineux et offre un degré élevé de reproduction des couleurs. Il est adapté à l'observation des échantillons de semi-conducteurs opaques.

Champ sombre
Il peut réaliser des images haute définition en observation de champ sombre et effectuer une inspection haute sensibilité des défauts tels que les rayures fines. Il est adapté à l'inspection de surface d'échantillons à forte demande.

Champ lumineux d'éclairage transmis
Pour les échantillons transparents, tels que les éléments FPD et optiques, l'observation du champ lumineux peut être réalisée par condenseur de lumière transmise. Il peut également être utilisé avec le DIC, la polarisation simple et d'autres accessoires.

Polarisation simple
Cette méthode d'observation convient aux échantillons de biréfringence tels que les tissus métallurgiques, les minéraux, les LCD et les matériaux semi-conducteurs.

Éclairage réfléchi du centralisateur informatique de bord
Cette méthode est utilisée pour observer de petites différences dans les moules de précision. La technique d'observation peut montrer la différence de hauteur minuscule qui ne peut pas être vue de façon d'observation ordinaire sous forme de gaufrage et d'images tridimensionnelles.

Le microscope d'inspection industriel BS-4020A est un instrument idéal pour les inspections de plaquettes de différentes tailles et de grands circuits imprimés. Ce microscope peut être utilisé dans les universités, l'électronique et les usines de puces pour la recherche et l'inspection de plaquettes, de FPD, de circuits, de circuits imprimés, de science des matériaux, moulage de précision, métallocéramiques, moules de précision, semi-conducteurs et électronique, etc

Note: *tenue standard, ○ en option